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產品特點

優化設計：為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優化設計，配備固定的準直器和基本濾片，適用于貴金屬分析。

測量精度高：配備高分辨率硅漂移探測器（SDD），適用于更復雜的多元素分析，能實現高精度測量和良好的檢測靈敏度。重復性對于金≤0.5‰，測量時間 60 秒。

測量方向合理：由下至上的測量方向，可簡便地實現樣品定位。

穩定性好：具有出色的精度和長期穩定性，降低了重新校準的必要性，節省時間和精力。

分析方法先進：Fischer 的基本參數方法允許分析固體和液體樣品以及涂層系統，無需校準。

技術參數

元素范圍：硫 S（16）至鈾 U（92），同時多達 24 種元素。

設計：臺式單元，帶有向上打開的罩。

X 射線管：帶鈹窗的微焦點鎢管。

高電壓：3 檔，分別為 30kV，40kV，50kV；最大陽極電流 1mA。

光圈（準直儀）：直徑 1mm（39mils），可選直徑 2mm（79mils）或直徑 0.6mm（23.6mils）。

應用領域

珠寶行業：可分析珠寶中各種貴金屬及其合金的成分，確定其純度和品質，也可測量珠寶表面涂層厚度，評估涂層質量。

硬幣制造：用于分析硬幣的金屬成分，確保其符合標準，同時可檢測硬幣表面的鍍層厚度，保證鍍層均勻性和質量。

貴金屬加工：在貴金屬冶煉、加工過程中，對原材料、半成品和成品進行成分分析和涂層厚度測量，實現質量控制。

牙科領域：分析牙科合金的成分，確保其生物相容性和性能符合要求，也可用于測量牙科修復體表面涂層厚度